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簡(jiǎn)要描述:A22NeXT 新型激光粒度儀精確測(cè)量粒徑變得非常簡(jiǎn)單 - 即使只經(jīng)過(guò)簡(jiǎn)短的說(shuō)明且沒(méi)有操作經(jīng)驗(yàn)的員工(例如,在收貨或運(yùn)輸部門工作的員工),A22其強(qiáng)大的產(chǎn)品性能將發(fā)揮他的優(yōu)勢(shì)。使用前僅需簡(jiǎn)單介紹就能夠使用了;絕大多數(shù)操作設(shè)備能夠自動(dòng)運(yùn)行。
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A22NeXT 新型激光粒度儀 的 優(yōu) 勢(shì)
• 契合您需求的測(cè)量范圍
• ANALYSETTE 22 NeXT 微米型 0.5–1500 µm
• ANALYSETTE 22 NeXT 納米型 0.01–3800 µm
• 測(cè)量時(shí)間短,準(zhǔn)確度高
• 穩(wěn)定的重復(fù)性,有可靠的數(shù)據(jù)可比性
• 可移動(dòng)部件少,大大提升了耐用性能,維護(hù)率低
• 操作簡(jiǎn)單便捷,沒(méi)有死角設(shè)計(jì)保證清潔無(wú)殘留
• 設(shè)計(jì)緊湊,節(jié)省空間
全新升級(jí)的 A22NeXT 新型激光粒度儀 可以讓您根據(jù)自己的需求選擇測(cè)量范圍:ANALYSETTE22 NeXT 微米型測(cè)量范圍為0.5–1500 µm,用于大多數(shù)常規(guī)樣品的測(cè)量需求;擁 有 更 大 測(cè) 量 范圍 的ANALYSETTE 22 NeXT 納米型,測(cè)量范圍拓展至0.01-
3800μm,納米型激光粒度儀擁有高的測(cè)量精度,附加的檢測(cè)器能夠更靈敏的分辨極小的顆粒。
滿足您需求的決定性優(yōu)勢(shì): 操作和清洗非常簡(jiǎn)單,分析時(shí)間短,可靠的測(cè)量結(jié)果和重復(fù)性,也可以記錄額外的測(cè)量數(shù)據(jù)如濕法分散過(guò)程中體系的溫度及PH值,以較值的價(jià)格提供先進(jìn)的技術(shù),它將是您的明智選擇!
一鍵即可操作:借助ANALYSETTE 22 NeXT,精確測(cè)量粒徑變得非常簡(jiǎn)單 - 即使只經(jīng)過(guò)簡(jiǎn)短的說(shuō)明且沒(méi)有操作經(jīng)驗(yàn)的員工(例如,在收貨或運(yùn)輸部門工作的員工),A22其強(qiáng)大的產(chǎn)品性能將發(fā)揮他的優(yōu)勢(shì)。使用前僅需簡(jiǎn)單介紹就能夠使用了;絕大多數(shù)操作設(shè)備能夠自動(dòng)運(yùn)行。
FRITSCH 優(yōu) 勢(shì)
結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
經(jīng)過(guò)巧妙升級(jí)的測(cè)量單元設(shè)計(jì)使ANALYSETTE 22 NeXT特別緊湊且節(jié)省空間。
FRITSCH 優(yōu) 勢(shì)
極短的測(cè)量時(shí)間
ANALYSETTE 22 NeXT可以在不到一分鐘的時(shí)間內(nèi)完成大多數(shù)測(cè)量,包括可靠的沒(méi)有死角清潔。
FRITSCH 優(yōu) 勢(shì)
全自動(dòng)分析
粒度分析的完整計(jì)算分析會(huì)自動(dòng)進(jìn)行,并在屏幕上直接將清晰的結(jié)果呈現(xiàn)給您。 當(dāng)然,您也可以保存并打印出根據(jù)需要定制的報(bào)告。
杰出的售后支持
購(gòu)買ANALYSETTE 22 NeXT之后,我們將提供安裝,定制軟件詳細(xì)信息和培訓(xùn) – 我們的服務(wù)將快速而靈活。
FRITSCH總部的專家可通過(guò)遠(yuǎn)程維護(hù)為您提供幫助。
可 靠 的 測(cè) 量 結(jié) 果
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證的高重復(fù)性
The ISO 13320 (激光粒度儀-激光衍射法) 對(duì)于激光粒度儀的重現(xiàn)性、重復(fù)性以及測(cè)量精度界定了一個(gè)低的標(biāo)準(zhǔn),通過(guò)這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)檢驗(yàn)測(cè)量的準(zhǔn)確程度及可信度。FRITSCH ANALYSETTE 22 NeXT 嚴(yán)格符合甚至性能遠(yuǎn)高于 ISO 13320 的要求。 這是 FRITSCH 的一貫作風(fēng)。
標(biāo)準(zhǔn)樣品顆粒
激光衍射測(cè)量粒徑是基于基本的物理關(guān)系,也就是說(shuō),從嚴(yán)格意義講,不需要儀器的校準(zhǔn)。然而,測(cè)量?jī)x器應(yīng)定期檢測(cè),以確保其功能可靠。為此,使用了各種標(biāo)準(zhǔn)顆粒材料,以便對(duì)整個(gè)系統(tǒng)進(jìn)行簡(jiǎn)單、快速和可靠的檢查,來(lái)確保不同的應(yīng)用和粒徑范圍。
標(biāo)準(zhǔn)顆粒材料由FRITSCH提供,并與測(cè)量說(shuō)明書一起交付,且附有粒徑的上限和下限的標(biāo)準(zhǔn)。上限和下限被國(guó)際的程序所確定(NIST 可追溯)。
關(guān)于 ISO 13320:
• 描述了基本的測(cè)量原理
• 概述了光學(xué)設(shè)計(jì)(激光衍射儀/粒度分析儀)的幾種變體• 提供使用適當(dāng)?shù)墓馍⑸淅碚摚ǚ颥樅藤M(fèi)衍射或米氏散射)的標(biāo)準(zhǔn)
• 定義對(duì)測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性,可重復(fù)性和可重復(fù)性的檢查
• 提供優(yōu)化測(cè)量程序的建議
完 善 的 測(cè) 量 技 術(shù)
兩種測(cè)量單元用于不同的測(cè)量范圍
迄今為止,最新的 ANALYSETTE 22 NeXT 的運(yùn)行方式與每個(gè)FRITSCH激光粒度儀一樣,采用的是FRITSCH發(fā)明的反向傅立葉設(shè)計(jì),該設(shè)計(jì)現(xiàn)已確立為激光粒度儀設(shè)計(jì)通用標(biāo)準(zhǔn)。您的優(yōu)勢(shì):在測(cè)量單元和檢測(cè)器之間沒(méi)有額外的光學(xué)元件。設(shè)計(jì)緊湊,部件最少,幾乎無(wú)需維護(hù)。
測(cè)量過(guò)程的強(qiáng)大優(yōu)勢(shì):
• 僅使用單一波長(zhǎng)光源:簡(jiǎn)單,可靠,減小干涉誤差• 快速同時(shí)記錄所有散射數(shù)據(jù)
• 通過(guò)先進(jìn)的16位轉(zhuǎn)換器技術(shù)對(duì)光強(qiáng)度進(jìn)行高精度記錄
• 通過(guò)智能測(cè)量池設(shè)計(jì)還可以記錄非常寬的散射角
• 兩種型號(hào)具有不同的測(cè)量范圍
• 連續(xù)記錄激光輸出
• 快速自動(dòng)光束調(diào)整
FRITSCH 優(yōu) 勢(shì)
單一波長(zhǎng)激光光源 – 更快的測(cè)量
ANALYSETTE 22 NeXT 只使用單一波長(zhǎng)的激光器工作,即使向后散射。因此,僅一次掃描即可記錄整個(gè)測(cè)量范圍。 這樣可以大大加快工作速度–必要時(shí)可以同時(shí)進(jìn)行更多測(cè)量。并實(shí)時(shí)查看測(cè)量結(jié)果如何發(fā)展。
FRITSCH 優(yōu) 勢(shì)
極大的測(cè)量角度
在ANALYSETTE 22 NeXT中,測(cè)量單元與激光束的設(shè)置成一定角度,從而可以記錄到更大的散射角范圍。這項(xiàng)技術(shù)在納米范圍內(nèi)提供了高的分辨率和準(zhǔn)確性,并進(jìn)一步優(yōu)化了相關(guān)算法。
FRITSCH 優(yōu) 勢(shì)
高效數(shù)據(jù)采集
ANALYSETTE 22 NeXT 具有先進(jìn)的電子技術(shù),其測(cè)量核心是極快的高分辨率轉(zhuǎn)換器,可同時(shí)記錄所有檢測(cè)器元件的信號(hào)。能夠在極短的時(shí)間將所有的散射光分布信號(hào)有效傳輸,掃描頻率可達(dá)到2K.z
FRITSCH 優(yōu)勢(shì) 極易清洗的樣品測(cè)量池
ANALYSETTE 22 NeXT的測(cè)量單元為實(shí)用的盒狀設(shè)計(jì),可從儀器前方直接插入,無(wú)需使用復(fù)雜的工具即可輕松裝卸。
外部密封配件的拆卸也非常簡(jiǎn)單,使其清潔過(guò)程極為方便快捷。測(cè)量池玻璃的更換可以在任何時(shí)間進(jìn)行。
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